Цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи

ID работы - 723912
разное (реферат)
количество страниц - 20
год сдачи - 2012

---

СОДЕРЖАНИЕ:

---

Введение 3
Основные структуры ИМС АЦП 4
Методы АЦП 6
АЦП параллельного преобразования 6
АЦП последовательного приближения 7
Характеристики ИМС АЦП 10
Разрешающая способность 10
Нелинейность 12
Погрешность полной шкалы 15
Смещение нуля 15
Абсолютная погрешность 16
Дифференциальная нелинейность 17
Заглючение 19
Список литературы 20

---

ВВЕДЕНИЕ:

---

Цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи АЦП находят широкое применение в различных областях современной науки и техники. Они являются неотъемлемой составной частью цифровых измерительных приборов, систем преобразования и отображения информации, программируемых источников питания, индикаторов на электронно-лучевых трубках, радиолокационных систем, установок для контроля элементов и микросхем, а также важными компонентами различных автоматических систем контроля и управления, устройств ввода-вывода информации ЭВМ.
Последние десятилетия обусловлены широким внедрением в отрасли народного хозяйства средств микроэлектроники и вычислительной техники, обмен информацией с которыми обеспечивается линейными аналоговыми и цифровыми преобразователями (АЦП и ЦАП).
Современный этап характеризуется развитием больших и сверхбольших интегральных схем ЦАП и АЦП обладающими высокими эксплуатационными параметрами: быстродействием, малыми погрешностями, многоразрядностью. Включение БИС ЦАП и АЦП единым, функционально законченным блоком сильно упростило внедрение их в приборы и установки, используемые как в научных исследованиях, так и в промышленности и дало возможность быстрого обмена информацией между аналоговыми и цифровыми устройствами.

---

СПИСОК ЛИТЕРТУРЫ:

---

1. Глудкин О. П., Черняева В. Н. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. - М.: Энергия, 1980. 2. Докучаев Н. И., Козырь И. Я. Онопко Д. И. Испытания и измерения интегральных микросхем. - М.: Изд. МИЭТ, 1978. 3. Докучаев Н. И., Коледов Л. А. Элементы надёжности и измерение параметров интегральных микросхем. - М.: Изд. МИЭТ, 1979. 4. Измерение параметров цифровых интегральных микросхем / Д. Ю. Эйдукас, Б. В. Орлов, Л. М. Попель и др.; Под ред. Д. Ю. Эйдукаса, Б. В. Орлова. - М.: Радио и связь, 1982. 5. Измерения и контроль в микроэлектронике: Учебное пособие по специальностям электронной техники / Дубовой Н. Д., Осокин В. И., Очков А. С. и др.; Под ред. А. А. Сазонова. - М.: Высшая школа, 1984. - 367с. 6. Микроэлектроника: Учеб. пособие для втузов. В 9 кн. / Под ред. Л. А. Коледова. Кн. 5. И. Я. Козырь. Качество и надёжность интегральных микросхем. - М.: Высшая школа, 1987. - 144 с.
Цена: 1000.00руб.