Существующие методы логического моделирования и диагностики с использованием компактных оценок

ID работы - 691022
радиоэлектроника (курсовая работа)
количество страниц - 24
год сдачи - 2012

---

СОДЕРЖАНИЕ:

---

ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. Существующие методы логического моделирования и диагностики с использованием компактных оценок.
1.1. Моделирование логических схем на ЭВМ
1.2. Методы анализа
1.3. Описание тестовой диагностики
1.4. Принципы генерирования случайных и псевдослучайных по-следовательностей
1.5. Особенности построения генераторов тестовых последовательностей
ГЛАВА 2.Сигнатурный анализ.
2.1. Описание сигнатурного анализа
2.2. Одноканальный сигнатурный анализатор
2.3. Многоканальные сигнатурные анализаторы
2.4.Многоканальный сигнатурный анализатор использованный в данной работе
2.5. Алгоритм построения многоканального сигнатурного анали-затора
2.6. Применение многоканальных анализаторов для диагностики неисправностей
2.7. Оценка достоверности многоканального сигнатурного анализатора

---

ВВЕДЕНИЕ:

---

Широкое распространение радиоэлектронных устройств с применением цифровой обработки сигналов обуславливает повышенный интерес к вопросам диагностирования их технического состояния.
Одной из разновидностей диагностирования цифровых узлов и блоков яв-ляется тестовое диагностирование, применение которого на этапе проектирова-ния и изготовления цифровых узлов позволяет определить правильность их функционирования и осуществить процедуру поиска неисправностей. При раз-работке тестовой диагностики возникает сложность в определении эталонных реакций при тестировании существующих схем, в определении оптимального числа контрольных точек для снятия выходной реакции диагностируемой циф-ровой схемы. Это можно сделать либо создавая прототип разрабатываемого цифрового устройства и проводя его диагностику аппаратурными методами, либо осуществляя моделирование на ЭВМ как цифрового устройства, так и процесса диагностики. Наиболее рациональным является второй подход, кото-рый предполагает создание автоматизированных систем диагностики [1], по-зволяющих производить диагностику цифровых схем на стадии проектирова-ния и способных решать следующие задачи:
1. Производить логическое моделирование цифровых схем с помощью ЭВМ. Цель логического моделирования состоит в том, чтобы выполнить функ-цию проектируемой схемы без её физической реализации. Проверка на пра-вильность моделирования может быть различной в зависимости от уровня представления цифровой схемы в ЭВМ. Если, например, осуществляется про-верка только значений логической функции на выходе схемы, то достаточно представить схему на уровне логических элементов. Для того чтобы проверить состояния сигналов в схеме, необходимо точно описать задержки срабатывания всех элементов в условиях синхронизации.
2. Моделирование неисправностей. Задача обнаружения неисправностей в цифровых схемах состоит в том, чтобы определить, обладает ли цифровая схе-ма требуемым поведением. Для решения этой задачи необходимо, прежде все-го, установить модель цифровой схемы как объекта контроля, затем метод об-наружения неисправностей и, наконец, модель неисправностей. С точки зрения особенностей поведения цифровых схем их можно разделить на комбинацион-ные и последовательностные. В отношении обнаружения неисправностей ком-бинационные схемы являются сравнительно простой моделью. Последователь-ностные схемы в отношении поведения характеризуются наличием внутренних контуров обратной связи, поэтому обнаружение неисправностей в них в общем случае чрезвычайно затруднено.
3. Моделирование процесса тестовой диагностики.
Классическая стратегия тестирования цифровых схем основана на форми-ровании тестовых последовательностей, позволяющих обнаруживать заданные множества их неисправностей. Для реализации генератора тестовой последова-тельности желательно использовать простейшие методы, позволяющие избе-жать сложной процедуры их синтеза. К ним относятся следующие алгоритмы:
1) формирование всевозможных входных тестовых наборов, т.е. полного перебора двоичных комбинаций. В результате применения подобного алгоритма генерируются счётчиковые последовательности;
2) формирование случайных тестовых наборов с требуемыми вероятностя-ми единичного и нулевого символов по каждому входу цифровой схемы;
3) формирование псевдослучайных тестовых последовательностей.
Основным свойством распространённых алгоритмов формирования тесто-вых последовательностей является то, что в результате их применения воспро-изводятся последовательности очень большой длины. Поэтому на выходах про-веряемой цифровой схемы формируются её реакции, имеющие ту же длину. Естественно возникают проблемы их запоминания и хранения. Простейшим решением, позволяющим значительно сократить объём хранимой информации об эталонных выходных реакциях, является получение интегральных оценок, имеющих меньшую размерность. Для этого используются алгоритмы сжатия информации.
Для того чтобы применять метод компактного сжатия тестирования, необ-ходимо рационально выбирать алгоритм формирования тестовых последова-тельностей и метод сжатия информации.[2]
Для диагностики любой комбинационной схемы особый интерес представ-ляет сигнатурный анализатор, в частности многоканальный сигнатурный ана-лизатор, в основе построения которого лежит алгоритм сжатия информации - сигнатурный анализ.
4. Анализ методов оценки эффективности компактного тестирования.
Построение сложных цифровых устройств требует повышенного внимания к компактным методам тестирования для каждого конкретного применения. По-этому возникает необходимость в оценке эффективности того или иного метода компактного тестирования. В настоящее время в литературе рассматриваются способы сравнения методов компактного тестирования.
Было предложено разработать моделирующий алгоритм, позволяющий строить многоканальные сигнатурные анализаторы.
Для этого необходимо было решить следующие задачи:
1) Логическое моделирование цифровых схем.
2) Разработка моделирующего алгоритма построения ГПСЧ.
3) Разработка моделирующего алгоритма построения многоканального сиг-натурного анализатора.
4) Оценка эффективности работы многоканального сигнатурного анализато-ра.
5) Разработка алгоритма поиска неисправностей

---

СПИСОК ЛИТЕРТУРЫ:

---

Цена: 2000.00руб.